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高機能インサーキットテスト
WTX-3000シリーズ |
高密度実装基板の搭載部品であるICやコネクタはファインピッチ化が進み、実装不良が多発しています。抵抗、コンデンサ等のリード挿入部品の不良検出を主とした従来型のインサーキットテスタでは検出能力の不足から、検査結果の信頼性が低下するばかりです。ウィルテックのWTX-3000シリーズはプリント板の実装品質を保証することをコンセプトに開発されたインサーキットテスタです。
測定結果のデータログ保存を始め、テスタ稼動記録や自己診断記録によるトレーサビリティ等、品質管理機能も充実しています。
高密度実装基板に適合のWTX-3000CNは、目視検査では検出困難なBGA-ICの端子浮き不良や、SMTコネクタのリード浮き不良を確実に検出するBus
DIFF機能およびMAP-CNを標準装備しています。
WTX-3000CN
WTX-2000 |
WTX-3000SX-CN |
WTX-3000CN-Cube
WTX-2000-Cube |
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| 機能比較 |
| 機能区分 |
機能 |
WTX-3000CN |
WTX-2000 |
WTX-3000SX |
WTX-3000CN-Cube |
WTX-2000-Cube |
| 筺体構成 |
筺体形状 |
テーブル型 |
テーブル型 |
テーブル型 |
BOX型 |
BOX型 |
| プレスユニット |
分離式 |
分離式 |
一体式 |
分離式 |
分離式 |
| 測定ポイント |
最大実装ポイント |
2048pin |
2048pin |
2048pin |
2048pin |
2048pin |
| 最大実装ポイント |
256pin |
256pin |
256pin |
256pin |
256pin |
| 実装不良検出 |
ショート・オープンテスト |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| ICリード浮き |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| NET-ICのリード浮き |
標準 |
NC |
標準 |
標準 |
NC |
| BGA-IC端子浮き |
標準 |
NC |
標準 |
標準 |
NC |
| SMTコネクタ浮き |
標準 |
NC |
標準 |
標準 |
NC |
| 抵抗測定範囲 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| コンデンサ測定範囲 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| コイル測定範囲 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| TR・D-TR・FET・PH |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 直行率改善 |
プローブ接触不良改善 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 接触不良疑惑検出 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 同一部品連続不良検出 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 補助機能 |
ピンNET詳細表示 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 不良部品位置表示 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| ピン番号位置表示 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 品質管理 |
テストデータログ |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 自己診断 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| テスタ稼働記録 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| ネットワーク |
テストデータ転送 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| リワーク環境 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
標準 |
| 本体仕様 |
外形寸法(mm) |
1200W×700D×710H
本体寸法 |
1200W×700D×
1185H |
500W×400D×540H
本体寸法 |
| 重量 |
90kg |
145kg |
60kg |
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